GaN开关更快,EMI为何反而更难压?
GaN开关更快,EMI为何反而更难压?GaN把开关损耗压低,也把封装、走线和共模回路里的寄生参数推到台前 GaN器件边沿更快,效率往往更有优势,可样机换管后却可能在几十兆赫以上多出振铃和噪声。器件没有“天生更差的EMI”,真正变化的是dv/
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GaN开关更快,EMI为何反而更难压?GaN把开关损耗压低,也把封装、走线和共模回路里的寄生参数推到台前 GaN器件边沿更快,效率往往更有优势,可样机换管后却可能在几十兆赫以上多出振铃和噪声。器件没有“天生更差的EMI”,真正变化的是dv/

DDR都做了等长,为何高速下仍会误码?DDR不是把所有网络拉成同一个长度,而是让每一组信号在自己的采样关系里到达 DDR布线报告全是绿色,长度差也很小,板子却在高频或高温下偶发训练失败。很多问题不是“等长精度还不够”,而是等长对象分错了:C

光电二极管有信号,带宽为何总上不去?跨阻增益、输入总电容与运放增益带宽互相牵制,换一颗更快运放不一定解决问题 光电二极管照光后有稳定输出,说明直流通路大体成立;上升沿慢、脉冲变形或输出振铃,却属于环路带宽与稳定性问题。反馈电阻越大,微弱电流

时钟已经锁定,FPGA为何仍会偶发出错?LOCKED只证明时钟管理单元锁住了,不代表复位、门控时钟和数据路径已经全部安全 板上读到PLL或DCM的LOCKED信号,工程师常会先把时钟源排除。可偶发错拍往往发生在“已经锁定”之后:复位释放太快

空载EMI能过,满载为何突然超标?空载频谱漂亮,不代表滤波器在满载电流和热稳态下还能保持同样的电感与阻抗 开关电源空载测试能过,负载一拉高,传导噪声却在某段频率突然抬升。问题不一定来自开关节点本身变差,也可能是输入滤波器在大电流、共模偏置或

混频频点对了,为何杂散也一起冒出来?混频器选出目标和差频的同时,也会生成更高阶组合频率;频率规划决定哪些产物会落进带内 混频器输出的目标中频位置完全正确,频谱旁边却冒出几根不认识的线。它们不一定是仪器噪声,也不一定来自本振泄漏。只要器件存在

高优先级任务,为何反被低优先级卡住?高优先级任务等待的不是CPU,而是低优先级任务手里尚未释放的共享资源 RTOS里把关键任务优先级调到最高,响应仍然偶发变慢。日志却显示中优先级任务一直在运行,低优先级任务也没完成。这个看似违反优先级规则的

同步整流换上MOS,为何效率反而下降?同步MOS能降低导通压降,但只有门极窗口与副边电流方向重合时,这份理论优势才会变成整机效率 把肖特基换成低导通电阻MOSFET,损耗公式看起来更漂亮,实测效率却可能没有提升。轻载时驱动本身在耗能,死区太